OWADMS-01 ऑप्टिकल वेज कोणीय विचलन मापन प्रणाली

संक्षिप्त वर्णन:

OWADMS-01 ऑप्टिकल वेज कोणीय विचलन मापन प्रणाली ऑप्टिकल नमूनों के ऑप्टिकल कोणीय विचलन, द्विनेत्री विचलन और वेज कोण को स्वचालित रूप से माप सकती है। यह ASTM F801 − 21 < पारदर्शी भागों के ऑप्टिकल कोणीय विचलन को मापने की मानक परीक्षण विधि > के अनुसार कांच के ऑप्टिकल कोणीय विचलन और द्विनेत्री विचलन के साथ-साथ ऑटोमोटिव विंडशील्ड ग्लास के HUD क्षेत्र में ऑप्टिकल वेज कोण को भी माप सकती है।यह मापन प्रणाली नमूने के कई निर्दिष्ट क्षेत्रों और बिंदुओं पर एक साथ लाइन स्कैन माप कर सकती है। लाइन स्कैन परिणामों को सीधी रेखाओं से संयोजित किया जा सकता है, और मापन परिणामों को संग्रहीत और लोड किया जा सकता है।


उत्पाद विवरण

उत्पाद टैग

आवेदन

● ऑटोमोटिव विंडशील्ड HUD क्षेत्र का वेज कोण

● पारदर्शी भागों का प्रकाशीय कोणीय विचलन

● पारदर्शी भागों का द्विनेत्री विचलन

विन्यास

इस प्रणाली में एक लेजर प्रकाश स्रोत सेंसर प्रणाली*, एक इलेक्ट्रॉनिक नियंत्रण नमूना समर्थन, एक औद्योगिक पीसी और एक सॉफ्टवेयर प्रणाली शामिल है।

पैरामीटर

मापन सीमा: 70'/4200"/20 मीटररिज़ॉल्यूशन: 0.04 '/2 "/0.01 mard

कार्यशील तापमान: 15~35 डिग्री सेल्सियस

सापेक्ष आर्द्रता: <85%

विद्युत आपूर्ति: 220VACप्रकाश स्रोत: लेजर

तरंगदैर्ध्य: 532 एनएम

शक्ति: <1 मेगावाट

 

संपर्क

संपर्क व्यक्ति: जेफ ली

दूरभाष: +86 153 2112 8188

Email:  jeffoptics@hotmail.com

वेबसाइट: www.jeffoptics.com

पता: कमरा नंबर 212, दूसरी मंजिल, तीसरी इमारत, बीजिंग बोना इलेक्ट्रिक कंपनी लिमिटेड, जी6 सहायक सड़क, चांगपिंग जिला, बीजिंग, 102208, चीन

* लेजर प्रकाश स्रोत सेंसर प्रणाली की विशिष्टताएँ SIS02 द्वितीयक छवि पृथक्करण परीक्षण प्रणाली के समान हैं और इन्हें आपस में बदला जा सकता है।


  • पहले का:
  • अगला:

  • अपना संदेश यहाँ लिखें और हमें भेजें।