माध्यमिक-छवि-पृथक्करण परीक्षण प्रणाली

संक्षिप्त वर्णन:

द्वितीयक-छवि-पृथक्करण परीक्षण प्रणाली (SIS-02) समर्पित स्थिति में विंडशील्ड पर प्राथमिक छवि से द्वितीयक छवि के कोणीय पृथक्करण को मापने के लिए समर्पित है।

सिस्टम के लिए सॉफ्टवेयर प्राथमिक छवि और माध्यमिक छवि की पहचान कर सकता है, पृथक्करण कोण और ऊर्जा अनुपात की गणना कर सकता है, परिणाम रिकॉर्ड कर सकता है और रिपोर्ट को स्वचालित रूप से निर्यात कर सकता है।


वास्तु की बारीकी

उत्पाद टैग

हार्डवेयर

SIS02 माध्यमिक छवि विचलन माप प्रणाली में टेलीस्कोप यूनिट (जैसा कि चित्र 1 में दिखाया गया है), लेजर प्रकाश स्रोत इकाई (जैसा चित्र 2 में दिखाया गया है), भारी समायोज्य तिपाई (विकल्प), आदि शामिल हैं।

दूरबीन इकाई में निम्नलिखित भाग होते हैं:

1. कैमरा।

2. लेंस।

3. 60 मिमी के स्ट्रोक के साथ मैनुअल लिफ्टिंग प्लेटफॉर्म।

4. लेंस धारक।

5. धूल का आवरण।

6. तिपाई पीटीजेड एडाप्टर प्लेट।

7. भिगोना काज (अनुकूलित)।

8. टैबलेट पीसी फिक्स्ड प्लेट (अनुकूलित)।

9. टैबलेट पीसी (अनुकूलित)।

10. कैमरा यूएसबी-कनेक्शन केबल।

लेजर प्रकाश स्रोत इकाई में निम्नलिखित भाग होते हैं:

1. धूल का आवरण।

2. विस्तार प्रकाशिकी।

3. लॉकिंग रिंग।

4. डिजिटल इनक्लिनोमीटर।

5. लेजर प्रकाश स्रोत फिक्सिंग सीट।

6. लेजर।

7. रेडिएटर।

8. पावर एडॉप्टर।

9. लेजर बिजली की आपूर्ति।

सॉफ़्टवेयर

सॉफ़्टवेयर इंटरफ़ेस में निम्नलिखित क्षेत्र शामिल हैं:

1. मेनू बार क्षेत्र: ऑपरेशन मेनू प्रदर्शित करें।

2. प्रदर्शन क्षेत्र: रीयल-टाइम स्क्रीन और सहायक जानकारी प्रदर्शित करें।

3. रिपोर्ट क्षेत्र: रिपोर्ट हेडर सेटिंग, माप रिकॉर्ड और रिपोर्ट ऑपरेशन।

4. परिणाम क्षेत्र: वास्तविक समय माप परिणाम प्रदर्शित करें।

5. ऑपरेशन एरिया: ऑपरेटर का ऑपरेशन कमांड।

6. स्थिति पट्टी क्षेत्र: संचालन की स्थिति और कैमरा फ्रेम दर प्रदर्शित करें।

विनिर्देश

श्रेणी:

80'*60'

न्यूनतम मान:

2'

संकल्प:

0.1'

ताज़ा दर

40 हर्ट्ज @ मैक्स

वर्किंग टेम्परेचर:

5 ~ 35 डिग्री

सापेक्ष मानवता:

<85%

बिजली की आपूर्ति:

220VAC

प्रकाश स्रोत:

लेज़र

लहर की लंबाई:

532 एनएम

ध्रुवीकरण कोण:

45±5°

लेजर पावर:

<1mw

कैमरा पोर्ट:

USB3.0/GigE

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माध्यमिक-छवि-पृथक्करण परीक्षण प्रणाली1 (1)
माध्यमिक-छवि-पृथक्करण परीक्षण प्रणाली1 (2)

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